取消
清空記錄
歷史記錄
清空記錄
歷史記錄
產(chǎn)品特點(diǎn):
●專為材料科學(xué)探究設(shè)計,能夠滿足各種金屬材料、非金屬材料、地質(zhì)材料
表面鏡檢、篩選及科研需求
●機(jī)械結(jié)構(gòu)穩(wěn)定,緊湊,人體工學(xué)設(shè)計,布局合理,使用舒適,能在自然的
姿勢下進(jìn)行顯微鏡操作
●采用NIS無限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng),具有工作距離長,色彩還原度高,成像精確等優(yōu)
秀的光學(xué)品質(zhì),成像可靠,提供高對比,清晰明亮的圖像
●采用模塊化設(shè)計,實(shí)現(xiàn)明場、暗場、微分干涉、熒光、偏光等觀測方法。
是半導(dǎo)體器件、FPD、電子器件、材料、精密模具制造的質(zhì)控和研究的理想工具
產(chǎn)品特點(diǎn):
●專為材料科學(xué)探究設(shè)計,能夠滿足各種金屬材料、非金屬材料、地質(zhì)材料
表面鏡檢、篩選及科研需求
●機(jī)械結(jié)構(gòu)穩(wěn)定,緊湊,人體工學(xué)設(shè)計,布局合理,使用舒適,能在自然的
姿勢下進(jìn)行顯微鏡操作
●采用NIS無限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng),具有工作距離長,色彩還原度高,成像精確等優(yōu)
秀的光學(xué)品質(zhì),成像可靠,提供高對比,清晰明亮的圖像
●采用模塊化設(shè)計,實(shí)現(xiàn)明場、暗場、微分干涉、熒光、偏光等觀測方法。
是半導(dǎo)體器件、FPD、電子器件、材料、精密模具制造的質(zhì)控和研究的理想工具