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歷史記錄
– 提供固定靜態(tài)偏置點進行窄脈沖動態(tài)IV測量,滿足準等溫
測試條件。
– 實現(xiàn)器件寄生效應(yīng)的量化測量與數(shù)據(jù)運算。
– 脈寬*小低至200ns。
– 具有內(nèi)部和外部同步能力。
– 脈沖時序設(shè)置和時域波形記錄。
– 儀器設(shè)備可與socket&半自動探針臺互聯(lián),進行封裝以及晶
圓級芯片測試。
– 提供固定靜態(tài)偏置點進行窄脈沖動態(tài)IV測量,滿足準等溫
測試條件。
– 實現(xiàn)器件寄生效應(yīng)的量化測量與數(shù)據(jù)運算。
– 脈寬*小低至200ns。
– 具有內(nèi)部和外部同步能力。
– 脈沖時序設(shè)置和時域波形記錄。
– 儀器設(shè)備可與socket&半自動探針臺互聯(lián),進行封裝以及晶
圓級芯片測試。